Corelis JTAG Boundary-Scan für Baugruppentests
Corelis bietet eine umfassende Linie von JTAG Boundary-Scan Tools (ScanExpress) für Baugruppentests und In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern, eMMC und andere programmierbare Bauteile. ScanExpress kommt mit einer intuitiven grafischen Windows-Oberfläche, aus der heraus Testvektoren generiert (SE TPG) und ausgeführt werden (SE Runner). Funktionsgleiche DLLs stehen zur Integration in National Instruments LabView, LabWindows/CVI, TestStand, Geotest ATEasy, Agilent's VEE, Visual Basic und C++ zur Verfügung.
Die aktuelle Version 10.2.0 steht allen Benutzern mit laufemdem Wartungsvertrag kostenlos zur Verfügung. Bitte kontaktieren Sie uns.
Aktuelle Informationen und Tipps zu Boundary-Scan findet man auf dem Twitter-Kanal von Corelis.
Funktionstests mit JTAG Embedded Testing (JET)Bei ScanExpress JET handelt es sich um eine Erweiterung der Boundary-Scan-Grundfunktionen, mit deren Hilfe automatische Funktionstests von Baugruppen vereinfacht und beschleunigt werden können. Mit Hilfe des sog. JTAG Embedded Tests sind nahezu alle Bauteile einer Baugruppe erreichbar und testbar, die mit üblichen Methoden des Boundary-Scan-Tests nicht oder nur eingeschränkt getestet werden können. Hier sind insbesondere I/O-Funktionen (z.B. USB, CAN, Ethernet, ADC, DAC) zu nennen, aber auch Speicher (z.B. DDR3) können mit Systemgeschwindigkeit getestet bzw. programmiert werden (z.B. Flash, eMMC).
ScanExpress JET unterstützt zahlreiche Microcontroller, FPGAs und SoCs, z.B. NXP CorIQ P2, Xilinx Zynq, Infineon Aurix, Nvidia Tegra K1 und Mobileye's EyeQ3, wobei letztere vor allem im Automotive-Bereich eingesetzt werden. Ab Version 9.4 werden einige neue PÜozessoren von ScanExpress JET unterstützt, u.a. Marvell OCTEON III CN7200 Multi-Core MIPS64 Processors und Texas Instruments TMS320C6748 DSP. ScanExpress JET bietet RAM und NOR-Flash Tests und Programmierung. Weitere Funktionenn sind auf ANfrage erhältlich. Ethernet-Loopback für NXP i.MX6 ist ab sofort Teil des JET Support Pakets für diese Prozessorefamilie. Weitere Informationen zu ScanExpress JET findet man in dieser Produktinformation.
JTAG-Controller für Boundary-Scan mit Corelis ScanExpress
Zahlreiche Varianten von JTAG -Controllern für PCI, PCI Express, USB 2.0, Ethernet/LAN, PXI/cPCI und VXI können mit ScanExpress Runner und ScanExpress JET eingesetzt werden. Hierbei sind Taktraten (TCK) von bis zu 100 MHz möglich, womit die Prüfung der Boardintegrität und die Programmierung von Bauteilen enorm beschleunigt wird. Vom kostengünstigen SIngle-TAP-Controller für Entwickler bis zum Multi-TAP-Controller für den Einsatz in der Produktion gibt es den passenden JTAG-Controller.
Controller von Drittanbietern werden von Corelis ScanExpress-Software ebenfalls unterstützt. So können z.B. National Instruments PXI-655x HSDIO oder Teradyne-Module aus der Di-Serie eingesetzt werden. Für manche Anwendung kann auch die verwendung eines eingebetteten controllers sinnvoll sein. Corelis unterstützt zu diesem zweck den FTDI FT2232 USB-Controller, der vor allem im Feld den Zugriff auf die zu testende Baugruppe (UUT) erheblich erleichtert.
Eine Einführung in die Technologie hinter JTAG finden Sie im JTAG-Tutorial. Ein weiteres interessantes Stück Literatur ist die Abhandlung über das Debuggen einer funktionslosen Baugruppe.
Bus-Analyzer für I²C und SMBus zur Prüfung und Programmierung von Bauteilen
Neben den "klassischen" JTAG-Testwerkzeugen kann der CAS-1000 I2C/E I²C Bus-Analyzer and Exerciser als I²C-Emulator und -Analyzer sowie als JTAG-Controller eingesetzt werden. Der CAS-1000-I2C/E kann als I²C-Master und -Slave verwendet werden, ermöglicht die Prüfung von Timing und Busparametern an I²C-Bauteilen und kann als Störgenerator eingesetzt werden.
Weitere Informationen und Preise zu Corelis Boundary-Scan-Produkten, Consulting und Training erhalten Sie auf Anfrage.